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leeb253 涂层测厚仪

产品特性:leeb253 涂层测厚仪采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性;覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等);可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对...

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产品介绍

产品特性:

leeb253 涂层测厚仪采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性;

覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等);

可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);

具有米、英制转换功能;

具有欠压指示功能;

操作过程有蜂鸣声提示;

具有错误提示功能;

具有自动关机功能。

产品简介:

leeb253磁性测厚仪|漆膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量;广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

符合以下标准:

GB/T 4956─1985 磁性方法;

JJG 818-95 《磁阻法测厚仪》;

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。

应用范围:

leeb253 涂层测厚仪广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

产品参数:

leeb253 涂层测厚仪

测头类型:F;

测量原理:磁感应;

测量范围: 0-6000um;

低限分辨力:1μm(10um以下为0.1um);

探头连接方式:一体化;

示值误差:

一点校准(um):±[3%H+1];

两点校准(um):±[(1%~3%)H+1];

测量条件:

最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9;

基体最小面积的直径(mm):ф7;

最小临界厚度(mm):0.5;

温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH;

工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);

测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

上下限设置:无;

关机方式:自动;

电源:二节3.6V镍镉电池;

外形尺寸:150×55.5×23mm;


产品细节图: